磁性测厚仪和超声波测厚仪的原理及对比

来源:林上 发布时间:2020/02/27 09:05:00 浏览次数:356
本文主要介绍磁性测厚仪和超声波测厚仪的测量原理,以及两者之间简单的对比,简单阐述了涂层测厚仪在测量中的注意事项。

磁性测厚仪的结构是一体式的,测量时可以单手操作。因为运用了电磁感应原理制作,所以适用于测量各种磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,既可以测量钢铁上的各种电镀(镀镍除外)、涂层、珐琅、塑料等覆盖层厚度,还可用于测量各种金属箔(如铜箔、铝箔、金箔等)和非金属薄膜(如纸张等)的厚度。磁性测厚仪可用于生产、验收检及质量监督等行业,用于检测产品是否符合国家标准。

超声波脉冲反射原理是超声波测厚仪来进行厚度测量的主要依据,当超声波测厚仪发射的超声波到达物体表面时,脉冲遇到被测物体表面时被返回,通过测量返回的时间就可以测量被测物的涂层厚度,超声波测厚仪适用于声波可在其内匀速传播的材料都可以测量,测厚仪精度不需要自行测试,只需打开说明书或者在测厚仪铭牌出处就可以找到具体精度。

现实生活中普通的测厚仪精度有0.1mm,0.01mm,还有0.001mm三种,第三种一般为薄膜测厚仪,精度要求高一些。还有像涂层测厚仪这种精度一般是0.001mm级的,测量厚度精度在0.020mm以下的,就非常差,国内产的有些测厚仪有有4-5个标准片,不同厚度有不同的标准片。

磁性测厚仪分为两种,一种叫磁力测厚仪,一种叫磁感测厚仪。磁力测厚仪是通过用磁体制成头与的探头与导磁的材料之间的磁吸力大小与处于两者之间的距离成一定比例关系这一原理来测量涂层厚度的。

磁感应原理就是利用探头在非铁磁材料覆盖基体面通过流入铁基材的磁通大小来测定覆层的厚度,涂层越厚,磁通越小,然后经过处理就可以换算成涂层厚度,现在测量工件表面覆层的厚度基本上是用磁性测厚仪了。

磁性测厚仪

单点测厚与对射式测厚的对比:

单点测厚:优点是简单,便捷,经济,数据容易提取。缺点是精度不好控制,适用于离线检测。

对射式测厚:优点是能够控制在线监测的带来的抖动误差,更好的测量产品。缺点是价格对比较贵,适用于在线检测。

测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪器。在工业生产中常用来测量物体表层的厚度是否达标,这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。涂层测厚的方式主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。

在涂层测量中应注意的事项:

  1. 在进行测试的时候要注意标准片基体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

  2. 测量时探头与被测物体表面保持垂直。

  3. 测量时要注意被测物表面金属的临界值。

  4. 测量时要注意基体的曲率。

  5. 测量前清除周围一切有磁性的物体,如果周围有物体可以产生磁厂,如果会将会干扰磁性测厚法。

  6. 测量时注意不要测拐角。

  7. 而且测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。

  8. 在进行测试的时要保持探头和被测物直接接触。

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