林上新款高精度涂层测厚仪新鲜出炉

来源:林上 发布时间:2020/05/29 18:10:00 浏览次数:201
本文主要描述了影响涂层测厚仪测量精度的因素以及林上新款高精度涂层测厚仪LS225是如何来保证测量精度的。

在涂层测厚仪行业仪器的“测量精度”一直是老生常谈的话题,同时也是广大涂层测厚仪用户比较关注的问题,那么影响涂层测厚仪的测量精度的因素有哪些?林上科技生产的高精度涂层测厚仪又是如何来解决这些因素的。以下我们来详细了解一下。

一、影响金属基体的人为可控因素

1.金属基体的磁性质

磁性法测厚会受到测性变化的影响。为了避免加工工艺(热处理和冷加工工艺的影响)对磁性的影响。我们一般会选择与试件金属性质相同的标准片进行校准。

2.边缘效应

一般的表面涂层测厚仪会对金属试件的表面陡变敏感。因此在测量试件表面的涂层厚度时一般会选择比较平整的中间部位。而高精度涂层测厚仪会减少边缘对测量精度的影响。

3.曲率

一般情况下试件的曲率会对测量结果有一定的影响。而且这种影响会伴随着曲率半径的减少会明显的增大。因此一般的涂层测厚仪在弯曲试件的表面上测量的数据是不可靠的。

4.测头压力和测头的取向

侧头在试件上的压力的大小会影响测量数据,在测量过程当中要保持测头与试件表面垂直且压力平衡。而高精度涂层测厚仪会规避这样的影响因素。

二、林上新款高精度涂层测厚仪是如何确保测量数据精准的

高精度涂层测厚仪LS225

1.仪器采用先进的数字探头

林上新款高精度涂层测厚仪采用先进的数字探头技术,使得测量数据直接在探头上完成。这样会使探头不易受到干扰确保了测量精度。

2.仪器采用先进的数字震荡技术

林上新款高精度涂层测厚仪的探头采用了数字震荡技术,高速ADC采集。确保了仪器测量数据的稳定性。

3.超小侧头

林上新款高精度涂层测厚仪的侧头比较小,使得以上影响因素当中边缘效应、和曲率的影响因素比较小。小的测头适合小型被测材料例如钉子、螺栓等小型工件。

4.多点校准

林上新款高精度涂层测厚仪采用用户多点校准。会避免因为金属基体性质而影响测量精度。仪器会依据实际工件修正曲线,使得测量数据更加精准。

5.仪器配有专业夹具可选

为了避免测头压力和和测头取向而造成的测量数据不精准的问题,新款LS225高精度涂层测厚仪配有测试夹具(可选),不但使得测量变得更加方便,还可以因为人为因素带来的测量误差。

以上就是林上LS225新款高精度涂层测厚仪为测量精度提供的强有力的保障措施,希望能对您提供帮助。

标签: 涂层测厚仪
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